当前，显示器件的广色域被众多厂商越来越重视，然而色域变得更宽广，对高精度检测提出了更高的要求。在本届中国（国际）平板显示产业大会趋势论坛上，日本TOPCON公司销售部经理西川和人特别介绍了该公司研发的全球首款OLED 2D光谱仪以及相关应用优势。

　　西川和人表示，随着显示器件色域越来越广，单点式光谱仪很难进行相关的检测，检测精度也不好。他介绍，在进行OLED测试时，TOPCON公司发现分光光谱波长会随时间而改变，而且影响了颜色再现性，使得在一般检测设备上很难检测。针对以上问题，TOPCON公司克服了很多难以突破的瓶颈，开发出了二维分光辐射亮度计，于2017年1月正式发布且同时开始供货全球首台二维分光辐射亮度计。

　　根据使用二维分光辐射亮度计所测量的Galaxy  S3、S5、iphone7的画面，西川和人介绍：“二维分光辐射亮度计可以显示全部的区域的任意位置的分光光谱，这也是其他厂家并无法制造这样高精度设备的原因。在380-780mm区间检测的光谱变化，可以发现波长上有产生分光，也是可以被二维分光辐射亮度计检测到。通过对中心点分光光谱比较，可以检测出设计阶段分光光谱与实际显示屏分光光谱的一致度，检测出设计时与生产时问题点在哪里。”

　　据介绍，二维分光辐射亮度计SR-5000采用TOPCON独家的核心技术，开发出可测量的380-780可见光范围小型透光滤片。同时，TOPCON研发出了SR5000H，该机型兼有着分光与彩色滤片复合功能，根据实际用途，使用者可以自由选择。因为OLED是自发光，像素检测更加困难，而新机型SR-5000M/5000HM仍然可以检测出像素Mura。SR-5000M/5000HM是特别5000M/5000HM是特别为检测像素Mura所开发出来的设备，搭配20倍、50倍、100倍显微镜镜头，可以检测到每一个像素的光学特性。目前二维分光辐射亮度计系列产品已经供货给苹果、三星、夏普、丰田等全球知名企业。